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低損耗光學元件的反射率和透射率的測定
- 產(chǎn)品型號：
- 更新時間：2023-12-21
- 產(chǎn)品介紹：低損耗光學元件的反射率和透射率的測定低損耗光學組件的反射率值R> 99％和透射率值T> 99％可以通過腔衰蕩時間測量非常精、準確地測量。與在光譜儀中進行測量相比，該方法具有三個主要優(yōu)點：Ø適用于非常高的反射率和透射率Ø無法獲得比實際值高的測量值Ø它具有很高的準確性
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產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學元件 | 應用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子/電池,綜合 |
低損耗光學元件的反射率和透射率的測定
低損耗光學組件的反射率值R> 99％和透射率值T> 99％可以通過腔衰蕩時間測量非常準確地測量。與在光譜儀中進行測量相比，該方法具有三個主要優(yōu)點：
Ø適用于非常高的反射率和透射率
Ø無法獲得比實際值高的測量值
Ø它具有很高的準確性
Basic CRD Measurement Setup
基本CRD測量設(shè)置
Layertec隨附各種腔衰蕩系統(tǒng)，通過這些系統(tǒng)可以穩(wěn)定地控制光學組件的質(zhì)量。 有關(guān)更多詳細信息，請參閱我們的目錄內(nèi)容“低損耗光學器件和腔衰蕩時間測量簡介”。
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